دوره 32، شماره 2 - ( دى 1392 )                   جلد 32 شماره 2 صفحات 100-89 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


دانشگاه بوعلی سینا ، a.fattah@basu.ac.ir
چکیده:   (6161 مشاهده)
در این تحقیق، تاثیر پتانسیل بر ترکیب شیمیایی و پروفیل غلظتی عناصر در لایه رویین تشکیل شده روی فولاد زنگ نزن 316 کم کربن در محلول 05/0 مولار اسید سولفوریک با استفاده از تحلیل طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس بررسی شد. برای تشکیل لایه رویین در بازه رویین شدن، چهار پتانسیل 2/0-، 2/0، 5/0 و VSCE 8/0 انتخاب و نمونه ها در پتانسیل های تشکیل مربوطه به مدت 60 دقیقه نگه داری شدند. نتایج آزمون های طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس نشان داد که غلظت اتمی آهن و کروم در ابتدا با افزایش پتانسیل تا VSCE 5/0 افزایش و پس از آن کاهش می یابد. این کاهش، نشان دهنده‌ی انحلال سطحی کاتیون های آهن و کروم از لایه رویین به درون محلول است. برای دو عنصر آلیاژی نیکل و مولیبدن تغییر آشکاری در غلظت اتمی با افزایش پتانسیل لایه مشاهده نمی شود. نتایج نشان داد که با افزایش پتانسیل و نزدیک شدن به منطقه رویین گذرا، اکسید شدن کاتیون کروم سه ظرفیتی به شش ظرفیتی در لایه رویین اتفاق می افتد.
متن کامل [PDF 278 kb]   (1540 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: عمومى
دریافت: 1393/11/20 | پذیرش: 1394/2/16 | انتشار: 1394/2/16