هدف از این تحقیق بررسی تأثیر افزودن SiO۲ آمورف در تحولات فازی و ریزساختاری ZrO۲ است. نتایج پراش پرتو ایکس (XRD) نشان داد، به‌دلیل تشابه ساختاری بین زمینه آمورف و ساختار تتراگونال ZrO۲، اولین فازی که از زمینه آمورف جوانه می‌زند فاز شبه‌پایدار تتراگونال است. این فاز در نمونه ZrO۲ خالص ناپایدار بوده و در دمای حدود ۶۰۰ درجه سانتی‌گراد به فاز پایدار مونوکلینیک تبدیل می‌شود. درحالی که با افزودن SiO۲ به ساختار ZrO۲، فاز شبه‌پایدار تتراگونال حتی تا دمای حدود ۱۱۰۰ درجه سانتی‌گراد پایدار می‌ماند. محدوده دمایی پایداری ساختار تتراگونال شبه‌پایدار از حدود ۱۵۰ درجه سانتی‌گراد در ذرات ZrO۲ خالص به حدود ۵۰۰ درجه سانتی‌گراد در ذرات کامپوزیتی ZrO۲-SiO۲ با محتوای ۱۰ درصد مولی SiO۲ افزایش پیدا کرد. با افزایش بیشتر محتوای SiO۲ به ۳۰ درصد مولی، محدوده پایداری دمایی ساختار تتراگونال شبه‌پایدار ثابت ماند ولی میانگین اندازه ذرات نسبت به ذرات خالص ZrO۲، حدود ۱/۶ برابر کاهش یافت. پایداری ساختار تتراگونال شبه‌پایدار ZrO۲ به‌دلیل اثر محدودکنندگی SiO۲ و ایجاد پیوندهای شیمیایی جدید Zr-O-Si در فصل مشترک ذرات است.
